涂层测厚仪的原理

2024-06-03 21:38:32 (25分钟前 更新) 392 9383

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磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。  
涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。  
涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
MIssinGLess 2024-06-03
涂层测厚仪采用磁性测厚法,是一种便携式涂覆层测厚仪,它能快速无损伤精确地进行铁磁性金属基体上的非磁性(如油漆/电镀层等)覆层厚度上的测量。被广泛地应用于制造业/金属加工业/化工业/商检等检测领域。
涂层测厚仪采用磁性测厚法,是一种便携式涂覆层测厚仪,它能快速无损伤精确地进行铁磁性金属基体上的非磁性(如油漆/电镀层等)覆层厚度上的测量。被广泛地应用于制造业/金属加工业/化工业/商检等检测领域。
手机专用 2024-05-24
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
nellie0223 2024-05-13

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